Наличие на складе: по запросу

Технические параметры:

Производитель Texas Instruments
Артикул: 595-8V182512IDGGREP Категория:

Описание

8V182512IDGGREP Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device

Детали

Вес не указан

    Отзывы

    Отзывов пока нет.

Будьте первым, кто оставил отзыв на “8V182512IDGGREP”

Ваш e-mail не будет опубликован. Обязательные поля помечены *

Ваша оценка:  

Похожие товары