Описание
8V182512IDGGREP Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device
Производитель | Texas Instruments |
8V182512IDGGREP Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device
Вес | не указан |
---|
Отзывы
Отзывов пока нет.